摘要: 穆斯堡尔效应通常有两种测量方法：透射法和背散射法。在透射法测量中一般使用闪烁计数器、正比计数器等作为探测器，测量透过样品的γ射线总量。如果符合共振吸收条件时，则γ射线通过样品时的强度减弱得很厉害，因而可以获得下沉的穆斯堡尔谱由于这种γ射线的能量一般在几十keV(如57Fe的14.4 keV，119Sn的23.6 keV)范围内，所以要求样品不能太厚，以免影响能谱的测量工作。在背散射法测量中，其原理是射线在吸收体中先发生穆斯堡尔共振,产生激发的核能级，被激发的核能级再发射辐射。要求探测其发射的γ射线、特征X射线和内转换电子,获得上升的穆斯堡尔谱。通常探测器和吸收体是处在同一系统里。譬如用于观察背散射穆斯堡尔效应的正比计数器，它的两个阴极平面之一通常就是吸收体，另一个阴极平面是铝箔并作为辐射的入射帘。到目前为止，大多数实验工作是在透射条件下进行的，因为实验安排较为方便且计数率高。但在许多情况下，例如对材料的表面结构和对一些样品进行非破坏性的分析时，透射实验不能给出所需要的信息。因此，近年来，人们对背散射穆斯堡尔谱学的研究愈来愈多，尤其是其应用更促使散射技术的发展。