摘要: 过去的几十年中,电子自旋共振技术(ESR)在研究半导体材料缺陷及材料的电性能方面起到不可估量的作用。然而,当探测现代外延层、层问结构和超晶格时,由于材料体积小而导致总自旋数目减少与电子自旋共振的低灵敏度相矛盾,则ESR的重要性就显现不出。磁共振光学测量(ODticalDetectionofMagneticResonance,简称ODMR)的出现是一种物理和技术上的必然选择。本文对ODMR进行简要介绍,以便对磁共振技术感兴趣者了解这一新技术。