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扫描探针显微术与纳米科技

尹世忠, 赵喜梅

尹世忠, 赵喜梅. 扫描探针显微术与纳米科技[J]. 现代物理知识, 2001, 13(04): 26-27.
引用本文: 尹世忠, 赵喜梅. 扫描探针显微术与纳米科技[J]. 现代物理知识, 2001, 13(04): 26-27.
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扫描探针显微术与纳米科技

  • 邢台师范高等专科学校, 河北 054001

摘要

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  • 摘要: 扫描探针显微术（ＳｃａｎｎｉｎｇＰｒｏｂｅＭｉｃｒｏｓｃｏｐｙ,ＳＰＭ）是８０年代初发展起来的一类新型的表面研究新技术,其核心思想是利用探针尖端与表面原子间的不同种类的局域相互作用来测量表面原子结构和电子结构。它的出现使得纳米科技在近十年来得到了突飞猛进的发展。１．扫描探针显微术扫描探针显微术中最早研制成功的是扫描隧道显微镜（ＳｃａｎｎｉｎｇＴｕｎｎｅｌｉｎｇＭｉｃｒｏｓｃｏｐｙ,ＳＴＭ）,它是宾尼和罗雷尔于１９８１年发明的,二人１９８６年因此被授予诺贝尔物理奖。
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出版历程
  • 收稿日期:  2000-08-17
  • 修回日期:  1899-12-31
  • 刊出日期:  2001-08-17

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